IM3570,電氣阻抗分析儀
主要特點(diǎn) 測(cè)量|Z|、L、C、R 測(cè)量頻率4Hz~5MHz 測(cè)量時(shí)間：0.5ms 同時(shí)進(jìn)行掃頻測(cè)量和LCR測(cè)量 電氣阻抗分析儀 詳細(xì)介紹 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量 主機(jī)不標(biāo)配治具。請(qǐng)根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。 基本參數(shù)