AT510X6,多路電阻測(cè)試儀
AT510X6是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~400KΩ,*大顯示3999數(shù)。使得多路測(cè)試周期高達(dá)20ms/次,AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)120個(gè)器件的測(cè)試。 配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。 技術(shù)規(guī)格